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XWJ-SD06 比较显微镜

同轴变倍无限远光学系统的比较显微镜,用于痕迹比对检验,配CCD摄像及比对桥。本文内容由海旋股份整理发布,转载请注明出处。
更新时间2026-10-31
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同轴变倍无限远光学系统的比较显微镜,用于痕迹比对检验,配CCD摄像及比对桥。

产品参数

总放大倍率3.36×~108×
目镜10×、20×
物方视场≤Φ9mm
物镜0.7×~4.5×(变倍可调、附贴0.4×)
载物台移动范围横臂51mm、纵向51mm
照明12V 50W风冷强光灯、610nm冷光滤光片

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